1. Progettazione integrata di microscopio metallografico ottico e microscopio a forza atomica, potenti funzioni

2. Ha sia funzioni di imaging del microscopio ottico che del microscopio a forza atomica, entrambe possono funzionare contemporaneamente senza influenzarsi a vicenda

3. Allo stesso tempo, ha le funzioni di misurazione bidimensionale ottica e misurazione tridimensionale del microscopio a forza atomica

4. La testa di rilevamento laser e la fase di scansione del campione sono integrate, la struttura è molto stabile e l'anti-interferenza è forte

5. Dispositivo di posizionamento della sonda di precisione, la regolazione dell'allineamento del punto laser è molto semplice

6. Il campione di guida ad asse singolo si avvicina automaticamente alla sonda verticalmente, in modo che la punta dell'ago venga scansionata perpendicolarmente al campione

7. Il metodo di alimentazione dell'ago intelligente del rilevamento automatico della ceramica piezoelettrica pressurizzata motorizzata protegge la sonda e il campione

8. Sistema di posizionamento ottico ad altissimo ingrandimento per ottenere un posizionamento preciso della sonda e dell'area di scansione del campione

9. Editor utente di correzione non lineare dello scanner integrato, caratterizzazione nanometrica e precisione di misurazione migliore del 98%

Specifiche: